半導體集成電路時基電路靜態電源電流I+檢測

半導體集成電路時基電路靜態電源電流I+檢測項目

半導體集成電路時基電路的靜態電源電流I+檢測是評估電路在無信號輸入、輸出端開路狀態下功耗特性的關鍵環節。靜態電源電流直接影響設備的待機功耗、電池續航能力及芯片發熱表現，尤其在便攜式電子產品和低功耗芯片設計中具有決定性意義。檢測需在標準環境溫度下進行，重點關注電流穩定性、溫度漂移特性及不同供電電壓下的變化規律。通過精確測量I+值，可驗證芯片設計是否滿足低功耗指標，排查制造工藝偏差導致的漏電流異常，并為系統級電源管理策略提供數據支撐。

檢測儀器配置

高精度數字源表是核心檢測設備，需具備pA級電流測量分辨率與μV級電壓控制精度，配合電磁屏蔽探頭減少環境干擾。溫控探針臺用于保持芯片結溫恒定，溫度范圍通常覆蓋-40℃至+125℃。此外，需配置低噪聲直流電源提供穩定偏置電壓，及示波器監控電源紋波。所有儀器需通過GPIB或LAN接口與測試軟件聯動，實現數據自動采集與實時校準。

檢測方法流程

首先將待測電路固定在溫控探針臺，設置目標溫度并穩定10分鐘。通過源表施加額定工作電壓VCC，保持所有輸入引腳接地、輸出引腳懸空。采用四線法連接消除引線電阻誤差，先進行零點漂移校準。以10mV步進緩慢掃描VCC電壓（如1.8V至5.5V），在每個電壓點穩定后記錄100次電流采樣值的平均值。針對異常數據點，需重復測試并檢查接觸阻抗。最終通過最小二乘法擬合I+-VCC曲線，計算斜率判定漏電特性，并對比閾值判斷合格率。

檢測機構資質證書

CMA認證

檢驗檢測機構資質認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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