硅片檢測去哪里做?中析研究所材料檢測中心可對各類硅片進行檢測，包括反射率檢測，微量元素檢測等，出具第三方硅片檢測報告。

硅片檢測范圍

　　太陽能硅片，多晶硅片，半導體硅片，單晶硅片。

硅片檢測項目

　　反射率檢測，翹曲度檢測，微量元素檢測，碳氧含量，質量檢測，結晶度檢測，表面有機物檢測、電阻率檢測、壓阻系數，表面粗糙度等。

硅片檢測標準

　　GB/T 6619-2009硅片彎曲度測試方法

　　5GB/T 6620-2009硅片翹曲度非接觸式測試方法

　　6GB/T 6621-2009硅片表面平整度測試方法

　　7GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法

　　8GB/T 13388-2009硅片參考面結晶學取向X射線測試方法

　　9GB/T 14140-2009硅片直徑測量方法

　　10GB/T 19444-2004硅片氧沉淀特性的測定-間隙氧含量減少法

為什么選擇中科光析科學技術研究所做硅片檢測?

　　1、中析研究所硅片檢測中心資質齊全，資質認證的第三方檢測機構。

　　2、數據準確，博士團隊，歐美進口檢測設備，保證了數據的準確性。

　　3、研究所檢測報告支持二維碼查詢真偽。

　　4，多家分支機構，支持上門取樣，免費初檢。

　　5，售后服務，相關工程師一對一服務。

　　6，可出具中英文檢測報告，及msds報告編寫服務。

硅片檢測流程

　　1、電話咨詢

　　2、郵寄硅片樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。

檢測機構資質證書

CMA認證

檢驗檢測機構資質認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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