您現(xiàn)在的位置：首頁 > 檢測(cè)項(xiàng)目 > 其他檢測(cè)

中子探測(cè)器檢測(cè)

1對(duì)1客服專屬服務(wù)，免費(fèi)制定檢測(cè)方案，15分鐘極速響應(yīng)

可選形式：電子報(bào)告紙質(zhì)報(bào)告

可選語言：中文報(bào)告英文報(bào)告

發(fā)布時(shí)間：2025-07-25 08:49:03 更新時(shí)間：2025-08-28 10:23:41

點(diǎn)擊：133

作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

　　中子探測(cè)器檢測(cè)去那里做，中析研究所可對(duì)各類中子探測(cè)器檢測(cè)，包括銠型自給能中子探測(cè)器、定向中子探測(cè)器、小型化鋰玻璃中子探測(cè)器等。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括EJ/T 678-1992 自給能中子探測(cè)器等，出具第三方中子探測(cè)器檢測(cè)報(bào)告

檢測(cè)范圍

　　定向中子探測(cè)器、銠型自給能中子探測(cè)器、真空式中子探測(cè)器裝置、雙溝槽型碳化硅中子探測(cè)器、大面積熱中子探測(cè)器、基于氣體時(shí)間投影室的中子探測(cè)器、工作氣體循環(huán)式的源量程中子探測(cè)器、熱中子通量三維分布測(cè)量系統(tǒng)的中子探測(cè)器、應(yīng)用于真空環(huán)境下的密排式中子探測(cè)器、基于金屬?絕緣?半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的疊層慢中子探測(cè)器、Li玻璃中子探測(cè)器、小型化鋰玻璃中子探測(cè)器、MSM型金剛石快中子探測(cè)器、具有PIN微結(jié)構(gòu)的AlGaAs/GaAs中子探測(cè)器、半絕緣GaAs微溝槽中子探測(cè)器、基于雙面T型溝槽的碳化硅中子探測(cè)器、溝槽型碳化硅中子探測(cè)器、AlGaAs/GaAs中子探測(cè)器、基于陶瓷GEM膜的密閉中子探測(cè)器

檢測(cè)項(xiàng)目

　　溫度試驗(yàn)、潮濕試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、包裝運(yùn)輸試驗(yàn)、耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、自由跌落試驗(yàn)

部分檢測(cè)方法

　　低溫試驗(yàn)

　　經(jīng)低溫-20 士 3℃，24h 的溫度試驗(yàn)后，絕緣電阻應(yīng)符合要求低溫試驗(yàn)屬于不帶溫度沖擊的試驗(yàn),試驗(yàn)時(shí),

　　熱平衡時(shí)間不少于1h.其試驗(yàn)要求與方法按GB10263.2-88中3.1條、33條和第4章、5章的規(guī)定執(zhí)行,將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放人溫度為室溫的試驗(yàn)箱內(nèi),溫度調(diào)節(jié)的速率可選010℃/min(6℃h)-0.5℃/min(30℃/h),然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度調(diào)到規(guī)定值，待試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定后,其偏差不超過士3℃,在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時(shí)間,待試驗(yàn)樣品的溫度穩(wěn)定后,試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間可選4h、8h、24h、48h、72h或96h.試驗(yàn)后需測(cè)絕緣電阻和電容，(GB/T 10263)

　　潮濕試驗(yàn)

　　在相對(duì)濕度為95%，溫度為：40士2℃的條佳下放置48h后，絕緣電阻應(yīng)符合要求。清濕試驗(yàn)要求與方法拔GB102633-88中31條、33條和第4章、5章的規(guī)定執(zhí)行，試驗(yàn)時(shí)熱、濕平衡時(shí)間不少于1h。試驗(yàn)后需測(cè)絕緣電阻和電容.(GB/T10263)