物鏡球差透射(AC-TEM)
1對(duì)1客服專屬服務(wù),免費(fèi)制定檢測(cè)方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時(shí)間:2025-07-25 08:49:03 更新時(shí)間:2025-08-28 10:09:32
點(diǎn)擊:485
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
物鏡球差透射檢測(cè)去哪里做?中析研究所檢測(cè)中心可對(duì)各類物鏡球差透射檢測(cè),出具第三方物鏡球差透射報(bào)告。
TEM模式下能夠?qū)Σ牧辖Y(jié)構(gòu)進(jìn)行亞埃尺度(<0.1nm)的表征和分析,表征原子結(jié)構(gòu)像;
利用電子全息技術(shù),可以獲取所需樣品的振幅和相位信息,是研究材料內(nèi)勢(shì)場(chǎng)和磁場(chǎng)分布的有效和高空間分辨的手段,在半導(dǎo)體材料研究中的作用尤為突出;
可對(duì)材料進(jìn)行原子尺度、微納米尺度的形貌和成分的三維重構(gòu);
可對(duì)樣品進(jìn)行DPC分析;
可對(duì)材料進(jìn)行常規(guī)的形貌、成分、衍射分析,適用于晶體材料中應(yīng)力、應(yīng)變以及缺陷等的研究。
配備物鏡球差校正器和單色器;
配備多檔加速電壓:300kV、200kV、80kV、30kV;
透射電子顯微(TEM)模式的點(diǎn)分辨率:0.07nm (300kV),0.08nm (200kV),0.1nm (80kV),0.15nm (30kV);
掃描透射電子顯微(STEM)模式的點(diǎn)分辨率:不大于0.136nm (300kV);
配備電子全息技術(shù);
配備超級(jí)能譜系統(tǒng),能譜分辨率小于136 eV;
極靴間距5mm;
具備分割式STEM探頭。
1、填寫(xiě)申請(qǐng)表:聯(lián)系中析研究所工作人員確認(rèn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),簽訂委托書(shū);
2、安排寄樣:將樣品快遞或直接送至我司實(shí)驗(yàn)室 ;
3、產(chǎn)品檢測(cè):實(shí)驗(yàn)室安排測(cè)試,出草稿報(bào)告;
4、確認(rèn)草稿報(bào)告,發(fā)正式報(bào)告。
A、中析研究所擁有較全面的儀器設(shè)備,及多余年經(jīng)驗(yàn)的工程師團(tuán)隊(duì)。
B、提供顧問(wèn)式服務(wù),行業(yè)廣,針對(duì)客戶需求制定對(duì)應(yīng)解決方案。
C、各領(lǐng)域一站式技術(shù)服務(wù),六大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,全程專人對(duì)接,客戶可實(shí)時(shí)了解報(bào)告進(jìn)度
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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