X射線斷層掃描測量
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發布時間:2025-07-25 08:49:03 更新時間:2025-11-04 08:49:40
點擊:205
作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
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X射線斷層掃描測量主要應用于非接觸內外部無損三維幾何尺寸測量、材料結構分析、缺陷檢測、裝配檢查、逆向工程應用等。適用于塑料、橡膠、硅膠、纖維、輕金屬等多種材料,面向幾何計量、科研、注塑、鋁壓鑄、電池、汽車、醫療器械、包裝、電子消費品等行業領域。
1.測試并驗證缺陷,填充不足、缺料、雜質、氣泡等對產品可靠性造成嚴重影響的缺陷
2.檢測復雜電子元件內部結構、電子組裝產品焊接質量、其它零部件內部結構
3.檢測玩具、塑料零部件、復合組裝零部件等的界面結合或黏合情況
1.快速分析產品內外部故障原因:損傷、破裂、不良、斷裂等
2.配合失效分析,可靠性分析中間樣品無損檢測分析
1、填寫申請表:聯系中析研究所工作人員確認檢測標準,簽訂委托書;
2、安排寄樣:將樣品快遞或直接送至我司實驗室 ;
3、產品檢測:實驗室安排測試,出草稿報告;
4、確認草稿報告,發正式報告。

證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001

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