HASS試驗
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發布時間:2025-07-25 08:49:03 更新時間:2025-09-14 14:38:54
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作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
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目的和作用:HASS的主要目的是提高產品的可靠性和平均無故障時間(MTBF),同時降低產品成本。
基本原理:HASS基于的原理是使用高應力水平快速激發產品的潛在缺陷,這些應力可能包括溫度、濕度、振動等。
篩選剖面設計:HASS試驗需要設計具體的應力剖面,這通常涉及溫度循環、隨機振動等,以確保覆蓋產品的潛在故障模式。
典型HASS過程:一個典型的HASS過程可能包括將產品暴露在高溫和振動環境下,觀察其性能變化,識別故障并進行分析。
應用領域:HASS廣泛應用于電子、汽車、航空航天等行業,用于提高最終產品的質量和可靠性。
與HALT的區別:雖然HASS與高加速壽命試驗(HALT)有相似之處,但HASS更側重于生產階段的篩選,而HALT更多用于設計階段的測試和改進。
技術特點:HASS試驗具有高效率、高覆蓋率和高成本效益的特點,能夠在短時間內剔除大量潛在的早期故障。
PCB,芯片產品等
1) 進行預篩選,剔除可能發展為明顯缺陷的隱性缺陷;
2) 進行探測篩選,找出明顯缺陷;
3) 故障分析,改進措施。
GB/T 32466-2015電工電子產品加速應力試驗規程 高加速應力篩選導則
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001

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