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覆層厚度測試

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發布時間：2025-07-25 08:49:03 更新時間：2025-08-28 09:59:45

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作者：中科光析科學技術研究所檢測中心

　　測試項目：覆層厚度測試

　　測試目的：對具有覆蓋層的材料使用相對應的方法對其覆蓋層的厚度進行測量。

　　項目介紹：覆蓋層是材料覆蓋在另一材料表面所得到的固態連續膜，是為了防護、絕緣、裝飾等目的，涂布于金屬，織物，塑料等基體上的材料薄層。在機器產品的涂裝質量中，覆蓋層的厚度非常重要。覆蓋層的主要目的是防護，沒有厚度就沒有防護效果。覆蓋層對材料表面能起到防護作用，是通過覆蓋層的隔離作用—把材料表面和外界腐蝕介質隔離—而達到的。好的防護性是建立在合適的厚度基礎之上的。

測試標準	標準名稱	樣品要求	測試內容	適用范圍
ASTM E376-11	用磁場或渦流（電磁）試驗方法測量涂層厚度的標準實施規程	使用校準標準片校準后再進行測量	試樣的涂層厚度	含涂層的金屬基底
ASTM B659-90(R2008)	金屬和無機涂層厚度測量的標準指南	/	試樣的涂層厚度	金屬或無機涂層
ASTM B499-09(R2014)	用磁性法測量涂層厚度的標準試驗方法：磁性金屬上的非磁性涂層	使用校準標準片校準后再進行測量	試樣的涂層厚度測量值	磁性金屬上的非磁性鍍層
ISO 2178: 2016	磁性基底上的非磁性涂層涂層厚度的測量磁性法	使用校準標準片校準后再進行測量	試樣的涂層厚度、單獨測定的結果、算術平均值	可磁化金屬上的非磁化涂層
GB/T 4956-2003	磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法	使用校準標準片校準后再進行測量	試樣的覆蓋層厚度	具有非磁性覆蓋層的磁性基體金屬
GB/T 4957-2003	非磁性基體金屬上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法	使用校準標準片校準后再進行測量	試樣的覆蓋層厚度	具有非磁性覆蓋層的非磁性基體金屬，一部分陽極氧化膜
GB/T 16921-2005	金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法	根據所使用的儀器	試樣的測量位置、覆蓋層厚度、結果的標準偏差	具有覆蓋層的金屬
ISO 3497: 2000	金屬鍍層鍍層厚度的測量 X射線光譜測定法	根據所使用的儀器	測量區域、試樣的鍍層厚度	最多三層的金屬鍍層
ASTM B568-98 (R2014)	用X射線光譜法測量涂層厚度的標準試驗方法	根據所使用的儀器	試樣的涂層厚度	金屬和一些非金屬涂層
ASTM A754/A754M-11 (R2016)	用X射線熒光法測定鋼上金屬涂層重量（質量）的標準試驗方法	根據所使用的儀器	試樣的測量區域、涂層厚度	鋼板上的金屬涂層
JIS H8501-1999	金屬覆層厚度試驗方法