原子力顯微鏡
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發布時間:2025-07-25 08:49:03 更新時間:2025-11-04 08:48:08
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作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)自1986年發明以來,憑借其納米級分辨率和多物理量檢測能力,已成為材料科學、生物醫學和微電子等領域不可或缺的分析工具。本文聚焦AFM的核心檢測功能,深入解析其在微觀世界的多維探測能力。
AFM通過微懸臂末端的納米探針(曲率半徑5-20nm)與樣品表面作用,實時監測探針的位移變化。其核心技術包括:
工作模式包含接觸式、輕敲式和非接觸式,適用于從剛性材料到生物軟組織的多樣化樣本。
表面形貌成像
案例:石墨烯層數鑒定中,AFM可清晰分辨0.34nm的單層高度差。
力學性能表征
突破:高速力學成像模式(如Bruker的PeakForce QNM)實現每秒數千點的力學測繪。
電學性質分析
應用:鈣鈦礦太陽能電池中載流子遷移路徑的可視化。
磁學特性檢測
納米操縱與加工
材料科學
生物醫學
微電子
當前局限:
前沿方向:
原子力顯微鏡已從最初的形貌觀察工具發展為納米尺度的"物理實驗室",其多參量、原位動態的檢測能力持續推動著納米科技的邊界。隨著交叉技術的融合,AFM將在單分子科學、量子器件制造等領域開啟更廣闊的應用圖景。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001

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