晶型控制

　　晶型控制去哪里做?中析研究所檢測中心可對各類晶型控制，出具第三方晶型控制檢測報告。

檢測范圍

　　(1)晶型物質的絕對構型鑒別：單晶X射線衍射法(SXRD)，得到供試品的成分組成、構型、晶胞參數、晶系空間群等信息。

　　(2)相對鑒別方法：借助已知的晶型信息對未知供試品進行對比分析判斷，比如已知構型的對照品或對照品的譜圖比對。

　　檢測方法

　　①X-射線衍射法(XRD)②紅外吸收光譜法(FTIR)③拉曼光譜法(RM)④差示掃描量熱法(DSC)⑤熱重法(TGA)⑥偏光顯微鏡法

檢測流程

　　1、填寫申請表：聯系中析研究所工作人員確認檢測標準，簽訂委托書;

　　2、安排寄樣：將樣品快遞或直接送至我司實驗室 ;

　　3、產品檢測：實驗室安排測試，出草稿報告;

　　4、確認草稿報告，發正式報告。

中析研究所和其他第三方有什么區別?

　　A、中析研究所擁有較全面的儀器設備，及多余年經驗的工程師團隊。

　　B、提供顧問式服務，行業廣，針對客戶需求制定對應解決方案。

　　C、各領域一站式技術服務，六大檢測實驗室，全程專人對接，客戶可實時了解報告進度

檢測機構資質證書

CMA認證

檢驗檢測機構資質認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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